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冷熱沖擊快速溫變箱

冷熱沖擊快速溫變箱

簡要描述:冷熱沖擊快速溫變箱為了仿真不同電子構(gòu)件,在實際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件,改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變,可以提供更為嚴格測試環(huán)境,縮短測試時間,降低測試費用,但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響,產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗。(需把握在失敗機制依然未受影響的條件下)RAMP試驗條件標(biāo)示為:Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是

所屬分類:冷熱沖擊快速溫變試驗箱

更新時間:2024-05-21

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

詳情介紹
品牌SETH/賽思產(chǎn)地類別國產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子,航天,汽車,電氣

冷熱沖擊快速溫變箱特點:

◆可執(zhí)行AMP(等均溫變)、三箱沖擊(TC)、兩箱沖擊(TS)、高溫儲存、低溫儲存功能;

◆等均溫速率可設(shè)定范圍5℃~30℃(40℃);

◆滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求;

◆采用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術(shù)實現(xiàn)低溫節(jié)能運行;

◆除霜周期三天除霜一次,每次只需1小時完成;

◆通信配置RS232接口和USB儲存曲線下載功能;

◆感測器放置測試區(qū)出(回)風(fēng)口符合實驗有效性;

◆機臺多處報警監(jiān)測,配置無線遠程報警功能;

冷熱沖擊快速溫變箱滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求;

產(chǎn)品&規(guī)范

廠商名稱

高溫

低溫

溫變率

循環(huán)數(shù)

循環(huán)時間

備注

MIL-STD-2164、GJB-1032-90
電子產(chǎn)品應(yīng)力篩選

——

工作極限溫度

工作極限溫度

5℃/min

10~12

3h20min

——

MIL-344A-4-16
電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選

設(shè)備或系統(tǒng)

71℃

-54℃

5℃/min

10

——

——

MIL-2164A-19
電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選方法

——

工作極限溫度

工作極限溫度

10℃/min

10

——

駐留時間為內(nèi)部達到溫度10℃時

NABMAT-9492
美軍*制造篩選

設(shè)備或系統(tǒng)

55℃

-53℃

15℃/min

10

——

駐留時間為內(nèi)部達到溫度5℃時

GJB/Z34-5.1.6
電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南

組件

85℃

-55℃

15℃/min

≧25

——

達到溫度穩(wěn)定的時間

GJB/Z34-5.1.6
電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南

設(shè)備或系統(tǒng)

70℃

-55℃

5℃/min

≧10

——

達到溫度穩(wěn)定的時間

筆記本電腦

主板廠商

85℃

-40℃

15℃/min

——

——

——

可控制范圍:

TSR(斜率可控制)[5℃~30 ℃/min]

30℃/min→

電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗

28℃/min→

LED汽車照明燈

25℃/min→

PCB的產(chǎn)品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應(yīng)

24℃/min→

光纖連接頭

20℃/min→

IPC-9701 、覆晶技術(shù)的溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統(tǒng)&端子、改進導(dǎo)通孔系統(tǒng)信號 比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命

 

17℃/min→

MOTO

15℃/min→

IEC 60749-25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環(huán)測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、 汽車引擎蓋下環(huán)境)

11℃/min→

無鉛CSP產(chǎn)品溫度循環(huán)測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A

10℃/min→

通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測試

5℃/min→

 

錫須溫度循環(huán)試驗

技術(shù)規(guī)格:

型號

SER-A

SER-B

SER-C

SER-D

內(nèi)箱尺寸
W x D x H cm

40×35×35

50×50×40

60×50×50

70×60×60

外箱尺寸
W x D x H cm

140×165×165

150×200×175

160×225×185

170×260×193

溫度范圍

-80.00℃~+200.00℃

低溫沖擊范圍

-10.00℃~-40℃//-55℃//-65.00℃

高溫沖擊范圍

+60.00℃~+150.00℃

時間設(shè)定范圍

0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment

溫度波動度

≤1℃(≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示)

溫度偏差

≤±2℃(-65℃~+150℃)

溫度均勻度

<2.00℃以內(nèi)

溫變速率(斜率)

+5℃~+30℃/min(+40℃)

溫變范圍

-55℃~+85℃//+125℃

 

 



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